半導体製造工程で使用される重要な技術として 半導体Waferの表面に発生する様々な異物または 汚染物質を除去する技術です。
様々な異物及び汚染物質を除去し、きれいな表面を作ることで半導体素子の精度と信頼性を保証し、製品の品質を高める役割を果たします。
対象:金属残留物、異物、有機物残留物
原理 : 集束さ れたレーザーの物理的/熱的処理
ウェーハ/バンプの損傷を最小限に抑える全面スキャン処理
残留/異物欠陥部位認識のスキャン処理
ポイトマッチング及び異物処理
対象:有機物残留物、レーザー加工副産物
原理:物理的衝突、熱衝突収縮/膨張
粒子と圧縮空気の物理的収縮/膨張
収縮変形のための急速冷却(-70 ~ 80 ℃)
汚染物質を破壊するCO2粒子の800倍の膨張
室温で直接気化し、2次汚染がありません
対象 : 加工副産物、浮遊物質、ガス
原理 : 浮遊物質/気体流れ
異方性浮遊浮遊物の流れ発生
2次汚染防止のための等方性吸引